低溫卷繞試驗機將導體斷面積100平方毫米以下之試料在本機內冷卻1小時后，立即以均勻之速度繞卷于規定直徑之圓桿上，斷面積100平方毫米以上之試料，則先行繞卷，再冷卻相同之時間后，立即以及反方向繞卷于圓桿上，取出試料檢視表面是否產生龜裂、裂痕。

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